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二硒化鎢晶體（99.995） WSe2

簡要描述：二硒化鎢晶體 WSe2(Tungsten Diselenide)-P型
晶體尺寸：~10毫米
電學性能：半導體，P型
晶體結構：六邊形
晶胞參數：a = b = 0.328 nm, c = 1.298 nm, α = β = 90°, γ = 120°
晶體類型：合成
晶體純度：＞99.995%

  • 更新時間：2024-06-03
  • 產品型號：
  • 廠商性質：生產廠家
  • 訪  問  量：568

詳細介紹

二硒化鎢晶體 WSe2(Tungsten Diselenide)-P型
晶體尺寸：~10毫米
電學性能：半導體，P型
晶體結構：六邊形
晶胞參數：a = b = 0.328 nm, c = 1.298 nm, α = β = 90°, γ = 120°
晶體類型：合成
晶體純度：＞99.995%


X-ray diffraction on a WSe2 single crystal aligned along the (001) plane. XRD was performed at room temperature using a D8 Venture Bruker. The 5 XRD peaks correspond, from left to right, to (00l) with l = 2, 4, 6, 8, 10


Powder X-ray diffraction (XRD) of a single crystal WSe2. X-ray diffraction was performed at room temperature using a D8 Venture Bruker.


Stoichiometric analysis of a single crystal WSe2 by Energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDX).


Raman spectrum of a single crystal WSe2. Measurement was performed with a 785 nm Raman system at room temperature.


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